Overview

Der Test stellt einen wichtigen Schritt im Entwurfs-und Herstellungsablauf digitaler Schal- tungen dar, indem er unter Anwendung bestimmter Eingangssignale die Funktion einer ent- worfenen Schaltung an einem hergestellten Exemplar zu verifizieren erlaubt. Diese Aufga- bensteIlung gilt gleicherma en für diskret aufgebaute Logik wie für integrierte Schaltungen. Doch kommt wegen der begrenzten Zahl der externen Anschlüsse bei grö eren integrierten Schaltungen fast zwangsläufig die Aufgabe hinzu, Testbarkeitsaspekte beim Entwurf zu berücksichtigen, da andernfalls ein hinreichender Test häufig nicht oder nur mit grö eren Schwierigkeiten durchzuführen ist. Das liegt an der "Zugänglichkeit" integrierter Schal- tungen, die durch die Anzahl externer Anschlüsse beschränkt ist. Aus diesen und anderen Gründen ist der Test digitaler Schaltungen sinnvollerweise zusammen mit Überlegungen zur Testbarkeit einer Schaltung zu sehen. Traditionell ist der Test digitaler Schaltungen um die logische Entwurfsebene herum ange- ordnet, d.h. da die logische Ebene den Ausgangspunkt für die Testvorbereitung und die Testdurchführung darstellt. Es gibt darüber hinaus heute auch Ansätze, die von hierar- chisch höheren Ebenen ausgehen, doch hat sich bisher in diesem Bereich keine allgemein anerkannte Methodik etabliert, wie das für die logische Ebene der Fall ist. Es ist jedoch auch für den Testbereich wichtig, der wachsenden Komplexität der Schaltungen dadurch Rechnung zu tragen, da man hierarchische Methoden für deren Prüfung einsetzt. Die Notwendigkeit, eine Schaltung zu prüfen, ergibt sich im Rahmen ihrer Entstehung mehrfach, wenn auch mit unterschiedlicher Zielsetzung.