Overview

Le succès des entrepôts de données (ED) est dû essentiellement à l'accessibilité et la fiabilité de leurs informations. La modélisation multidimensionnelle est la base des ED et des analyses OLAP. Ce travail propose une approche qui vise à intégrer des hiérarchies de dimensions appartenant à deux schémas de magasins de données (MD). Notre approche est basée sur une métrique de comparaison de deux hiérarchies. Cette métrique est calculée suivant le nombre de paramètres en commun entre deux hiérarchies de deux MD. Suivant la valeur de la métrique nous avons dégagé trois relations sémantiques pour lesquelles l'intégration des hiérarchies est significative. Enfin, nous avons développé un prototype pour tester les solutions et évaluer la qualité de l'intégration.