Overview
Este livro apresenta um estudo experimental aprofundado do comportamento dos transístores SiC JFET para aplicações aeroespaciais exigentes. É descrita uma metodologia completa, incluindo a conceção de um banco de ensaios automatizado utilizando LabView, testes de robustez para determinar a energia crítica e testes de envelhecimento acelerado para monitorizar as alterações nos parâmetros eléctricos. Os resultados obtidos evidenciam indicadores de degradação fiáveis e abrem perspectivas interessantes para a conceção de sistemas electrónicos mais resistentes em ambientes extremos.
- | Author: Tarek Ben Salah
- | Publisher: Edicoes Nosso Conhecimento
- | Publication Date: Jun 17, 2025
- | Number of Pages: 88 pages
- | Binding: Paperback or Softback
- | ISBN-10: 6208939496
- | ISBN-13: 9786208939496
